纳米复合材料因其高强度、轻量化和多功能性，在航空航天、汽车制造、电子设备等领域广泛应用。然而，材料的性能优势往往被微观缺陷所限制——这些缺陷可能来自制备工艺、环境因素或材料本身的不均匀性。如何精准识别并解决这些缺陷，成为科研与工业界的核心课题。
纳米复合材料的缺陷通常分为以下几类：
界面缺陷：纳米颗粒与基体材料结合不紧密，导致应力集中，降低材料强度。
分散不均：纳米填料（如碳纳米管、石墨烯）团聚，影响导电性、导热性等关键性能。
孔隙与裂纹：制备过程中气泡残留或外力引发的微裂纹，可能成为材料失效的起点。
结构畸变：纳米层排列紊乱（如聚合物-黏土复合材料），削弱定向性能。
纳米复合材料的优势往往被缺陷“抵消”：
力学性能：界面缺陷会显著降低抗拉强度与韧性，引发早期断裂。
功能性：导电/导热网络若因分散不均被破坏，材料可能丧失设计功能。
耐久性：孔隙会加速腐蚀介质渗透，缩短材料服役寿命。
常规手段如扫描电镜（SEM）或X射线断层扫描（CT）虽能识别缺陷，但存在明显短板：
破坏性取样：需切割样品，无法用于成品质检。
高成本与低效率：大型设备操作复杂，难以实现批量检测。
针对上述挑战，Dolphicam2红外热像仪凭借其非接触、高灵敏度的特点，成为纳米复合材料缺陷检测的优选工具：
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快速全场扫描：10秒内完成1m²区域检测，效率远超传统方法。
深度学习分析：内置AI算法自动标记缺陷区域，减少人为误判。
适应复杂形状：适用于曲面、多层结构等传统手段难以检测的工件。
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